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Aktiv Normen | Herausgegeben: 25.09.2012
IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1 Change
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 14.80 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1
Ausgabedatum: 25.09.2012
Seiten: 5
Anmerkung: Change
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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