Aktiv Normen | Herausgegeben: 30.08.2002

IEC 60749-31-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause interne d´inflammation))

Verfügbare Sprachen: Spanisch, Englisch und Französisch

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 60749-31-ed.1.0

Ausgabedatum: 30.08.2002

Seiten: 9

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to internal heating caused by excessive overloads. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres), cet essai determine si le dispositif prend feu par suite dun echauffement interne du a des surcharges excessives. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.

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