Aktivní norma | Vydána: 30.08.2002

IEC 60749-31-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause interne d´inflammation))

Dostupné jazyky: Španělsky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 631.40 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC 60749-31-ed.1.0

Datum vydání: 30.08.2002

Stran: 9

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to internal heating caused by excessive overloads. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres), cet essai determine si le dispositif prend feu par suite dun echauffement interne du a des surcharges excessives. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.

Populární vydavatelé

celý katalog