IEC 62047-44-ed.1.0 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 22.02.2024

IEC 62047-44-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

ab 149.10 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 62047-44-ed.1.0

Ausgabedatum: 22.02.2024

Seiten: 19

Land: Internationale technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

IEC 62047-44:2024 describes terminology, definitions and test methods that are used to evaluate and determine the dynamic performance of MEMS (Micro-Electromechanical Systems) resonant electric-field-sensitive devices. It also specifies sample requirements and test equipment for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices. The statements made in this document are also applicable to MEMS resonant electric-field-sensitive devices with various driving mechanisms such as electrostatic, electrothermal, electromagnetic, piezoelectric, etc.
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.