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Aktiv Normen | Herausgegeben: 07.11.2018
IEC 62951-3-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 205.80 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: IEC 62951-3-ed.1.0
Ausgabedatum: 07.11.2018
Seiten: 22
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
IEC 62951-3:2018(E) specifies the method for evaluating thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging. The thin film transistor is fabricated on flexible substrates, including polyethylene terephthalate (PET), polyimide (PI), elastomer and others. The stress is applied by applying a uniformly-distributed pressure to the flexible substrate using the equipment.Populäre Herausgeber
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