Aktivní norma | Vydána: 07.11.2018

IEC 62951-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 4 978.40 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: IEC 62951-3-ed.1.0

Datum vydání: 07.11.2018

Stran: 22

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

IEC 62951-3:2018(E) specifies the method for evaluating thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging. The thin film transistor is fabricated on flexible substrates, including polyethylene terephthalate (PET), polyimide (PI), elastomer and others. The stress is applied by applying a uniformly-distributed pressure to the flexible substrate using the equipment.

Populární vydavatelé

celý katalog