Aktiv Normen | Herausgegeben: 29.03.2023

IEC 63287-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilite - Partie 2: Concept de profil de mission)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 63287-2-ed.1.0

Ausgabedatum: 29.03.2023

Seiten: 30

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

IEC 63287-2:2023 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications. L’IEC 63287-2:2023 fournit des lignes directrices pour lelaboration de plans de qualification de la fiabilite a l’aide du concept de profil de mission, sur la base des conditions environnementales et de l’utilisation prevue du produit. Le present document n’est pas destine aux applications militaires et spatiales.

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