Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gesicherte PDF - sofortiges Download
Bezeichnung: IEEE 1620-2004
Ausgabedatum: 29.04.2004
Seiten: 0
Anmerkung: Ungültige
Land: Internationale technische Norm