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Aktiv Normen | Herausgegeben: 31.10.2018
ISO 14701:2018-ed.2.0
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Measurement of silicon oxide thickness
(Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Mesurage de l´épaisseur d´oxyde de silicium)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 130.10 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ISO 14701:2018-ed.2.0
Ausgabedatum: 31.10.2018
Seiten: 17
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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