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Aktiv Normen | Herausgegeben: 06.01.2014
ISO 17470:2014-ed.2.0
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
(Analyse par microfaisceaux — Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) — Lignes directrices pour l´analyse qualitative ponctuelle par spectrométrie de rayons X a dispersion de longueur d´onde (WDX))
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 98.40 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: ISO 17470:2014-ed.2.0
Ausgabedatum: 06.01.2014
Seiten: 10
Land: Internationale technische Norm
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Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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