ISO 17470:2014-ed.2.0 img
Aktivní norma | Vydána: 06.01.2014

ISO 17470:2014-ed.2.0

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
(Analyse par microfaisceaux — Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) — Lignes directrices pour l´analyse qualitative ponctuelle par spectrométrie de rayons X a dispersion de longueur d´onde (WDX))

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 98.40 USD zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ISO 17470:2014-ed.2.0

Datum vydání: 06.01.2014

Stran: 10

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.