Aktiv Normen | Herausgegeben: 28.02.2024

ISO 18118:2024-ed.3.0

Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
(Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons — Lignes directrices pour l´utilisation de facteurs expérimentaux de sensibilité relative pour l´analyse quantitative de matériaux homogenes)

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

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Detailinformationen

Bezeichnung: ISO 18118:2024-ed.3.0

Ausgabedatum: 28.02.2024

Seiten: 22

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

Description / Abstract: This document gives guidance on the measurement and use of experimentally-determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The methods described only apply to polycrystalline and amorphous materials, as effects inherent to single-crystal samples are not addressed.

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