JIS C5630-2:2009 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 20.03.2009

JIS C5630-2:2009

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials

Verfügbare Sprachen: Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 2 589.00 USD im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: JIS C5630-2:2009

Ausgabedatum: 20.03.2009

Seiten: 10

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.