Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 20.03.2009
JIS C5630-2:2009
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 589.00 USD
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: JIS C5630-2:2009
Dátum vydania: 20.03.2009
Stránok: 10
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
