JIS C5630-6:2011 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 22.08.2011

JIS C5630-6:2011

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials

Verfügbare Sprachen: Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 63 193.00 CZK im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: JIS C5630-6:2011

Ausgabedatum: 22.08.2011

Seiten: 12

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.