Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: JIS R1637:1998
Ausgabedatum: 31.01.1998
Seiten: 4