JIS R1637:1998 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 31.01.1998

JIS R1637:1998

Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 97 200.00 CZK im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: JIS R1637:1998

Ausgabedatum: 31.01.1998

Seiten: 4

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.