Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: JIS R1637:1998
Dátum vydania: 31.01.1998
Stránok: 4