ÖNORM S5271

Detailinformationen

Bezeichnung: ÖNORM S5271

Ausgabedatum: 15.01.2012

Seiten: 17

Land: Österreichische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Diese ÖNORM ist anzuwenden für Einkristall-Gammakameras (einschließlich Gammakameras mit mehreren Messköpfen), die für die planare Szintigraphie und/oder für die Einzelphotonen-Emissions-Computer¬tomo¬graphie (SPECT, single photon emission computed tomography) verwendet werden. Diese ÖNORM beinhaltet Anforderungen an die zu verwendenden Prüfvorrichtungen und Computerprogramme sowie Richtlinien zur Durchführung der Konstanzprüfung. Zweck dieser ÖNORM ist es, einfache Verfahren für die Konstanzprüfung zu geben, die durch den Anwender mit möglichst einfachen Hilfsmitteln durchgeführt werden können. Sie hat weiters den Zweck, die für die Konstanzprüfung notwendigen Verfahren zu standardisieren. Voraussetzung für die Konstanzprüfungen sind Referenzmessungen, die im Anschluss an eine Abnahme- oder Teilabnahmeprüfung durchgeführt werden müssen. Referenzmessungen und Messungen zur Konstanzprüfung sind unter gleichen Bedingungen durchzuführen und müssen dokumentiert werden.