ÖNORM S5271 img
Aktivní norma | Vydána: 15.01.2012

ÖNORM S5271

Planare Szintigraphie und Einzelphotonen-Emissions-Computertomographie - Konstanzprüfungen apparativer Qualitätsmerkmale

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

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Podrobné informace

Označení: ÖNORM S5271

Datum vydání: 15.01.2012

Stran: 17

Země: Rakouská technická norma

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Anotace

Diese ÖNORM ist anzuwenden für Einkristall-Gammakameras (einschließlich Gammakameras mit mehreren Messköpfen), die für die planare Szintigraphie und/oder für die Einzelphotonen-Emissions-Computer¬tomo¬graphie (SPECT, single photon emission computed tomography) verwendet werden. Diese ÖNORM beinhaltet Anforderungen an die zu verwendenden Prüfvorrichtungen und Computerprogramme sowie Richtlinien zur Durchführung der Konstanzprüfung. Zweck dieser ÖNORM ist es, einfache Verfahren für die Konstanzprüfung zu geben, die durch den Anwender mit möglichst einfachen Hilfsmitteln durchgeführt werden können. Sie hat weiters den Zweck, die für die Konstanzprüfung notwendigen Verfahren zu standardisieren. Voraussetzung für die Konstanzprüfungen sind Referenzmessungen, die im Anschluss an eine Abnahme- oder Teilabnahmeprüfung durchgeführt werden müssen. Referenzmessungen und Messungen zur Konstanzprüfung sind unter gleichen Bedingungen durchzuführen und müssen dokumentiert werden.
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