Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Measurement of semiconductor devices. Transistors. Measurement of short circuit input admittance in common emitter configuration at higher frequencies
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN 358753
Ausgabedatum: 01.03.1970
Seiten: 0
Anmerkung: Ungültige
Land: Slowakische technische Norm