Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Measurement of semiconductor devices. Transistors. Measurement of short circuit input admittance in common emitter configuration at higher frequencies
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN 358753
Dátum vydania: 01.03.1970
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma