Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN EN 60749-29
Ausgabedatum: 01.07.2004
Seiten: 28
Anmerkung: Ungültige
Land: Slowakische technische Norm