Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-29
Dátum vydania: 01.07.2004
Stránok: 28
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma