Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN EN 60749-37
Ausgabedatum: 01.11.2008
Seiten: 23
Anmerkung: Ungültige
Land: Slowakische technische Norm