Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-37
Dátum vydania: 01.11.2008
Stránok: 23
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma