Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN EN IEC 63364-1
Ausgabedatum: 01.04.2023
Seiten: 0
Land: Slowakische technische Norm