Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN IEC 63364-1
Dátum vydania: 01.04.2023
Stránok: 0
Krajina: Slovenská technická norma