Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Definitions of test method terms for semiconductor radiation detectors and scintillation counting
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN IEC 60596
Ausgabedatum: 01.03.1995
Seiten: 8
Anmerkung: Ungültige
Land: Slowakische technische Norm