Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Definitions of test method terms for semiconductor radiation detectors and scintillation counting
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN IEC 60596
Dátum vydania: 01.03.1995
Stránok: 8
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma