Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: UNE-EN 60749-2:2003
Ausgabedatum: 30.05.2003
Seiten: 19
Land: Spanische technische Norm