Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: UNE-EN 60749-25:2004
Ausgabedatum: 11.06.2004
Seiten: 33
Land: Spanische technische Norm