Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 25: Teplotní cykly.)
Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: UNE-EN 60749-25:2004
Datum vydání: 11.06.2004
Stran: 33
Země: Španělská technická norma