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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.01.2013
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Change
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 17.60 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Ausgabedatum: 01.01.2013
Seiten: 11
Anmerkung: Change
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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