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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.11.2006
UNE-EN 60749-27:2006
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 57.80 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 60749-27:2006
Ausgabedatum: 01.11.2006
Seiten: 17
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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