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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.11.2011
UNE-EN 60749-29:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 78.10 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 60749-29:2011
Ausgabedatum: 01.11.2011
Seiten: 26
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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