Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.11.2011
UNE-EN 60749-29:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 1 702.80 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: UNE-EN 60749-29:2011
Datum vydání: 01.11.2011
Stran: 26
Země: Španělská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
