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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.01.2007
UNE-EN 60749-35:2006
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 77.00 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 60749-35:2006
Ausgabedatum: 01.01.2007
Seiten: 25
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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