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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.09.2008
UNE-EN 60749-38:2008
Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 57.80 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 60749-38:2008
Ausgabedatum: 01.09.2008
Seiten: 16
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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