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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.12.2016
UNE-EN 60749-44:2016
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 67.60 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 60749-44:2016
Ausgabedatum: 01.12.2016
Seiten: 28
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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