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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.11.2013
UNE-EN 62047-11:2013
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 65.70 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 62047-11:2013
Ausgabedatum: 01.11.2013
Seiten: 23
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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