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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.02.2012
UNE-EN 62047-12:2011
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures (Endorsed by AENOR in February of 2012.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 75.50 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 62047-12:2011
Ausgabedatum: 01.02.2012
Seiten: 33
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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