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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.06.2012
UNE-EN 62047-13:2012
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (Endorsed by AENOR in June of 2012.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 66.90 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 62047-13:2012
Ausgabedatum: 01.06.2012
Seiten: 18
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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