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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.11.2014
UNE-EN 62047-22:2014
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (Endorsed by AENOR in November of 2014.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 52.90 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 62047-22:2014
Ausgabedatum: 01.11.2014
Seiten: 14
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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