Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (Endorsed by AENOR in November of 2014.)
Available languages: English
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: UNE-EN 62047-22:2014
Publication date: 01/11/2014
Pages: 14
Country: Spanish technical standard