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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.03.2011
UNE-EN 62374-1:2010
Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 1 525.20 CZK
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 62374-1:2010
Ausgabedatum: 01.03.2011
Seiten: 19
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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