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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.05.2022
UNE-EN IEC 60749-28:2022
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2022.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 100.00 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN IEC 60749-28:2022
Ausgabedatum: 01.05.2022
Seiten: 57
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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