Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Page 514
American National Standard for Metric Practice
Available languages: English
Available design: electronic (protected pdf)
IEEE Synchrophasor Measurement Test Suite Specification and Standards - Plus
Available languages: English
Available design: electronic (protected pdf)
A Guide to Human Rights Impact Assessments for Organizations Involved in the AI Lifecycle