Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 514
American National Standard for Metric Practice
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF
IEEE Synchrophasor Measurement Test Suite Specification and Standards - Plus
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF
A Guide to Human Rights Impact Assessments for Organizations Involved in the AI Lifecycle