Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Shallow Etch Pit Detection on Silicon Wafers (Withdrawn 2003
Available languages: English
Available design: Online Secure PDF
Designation: ASTM F1049-02
Publication date: 10/12/2002
Pages: 4
Note: Withdrawn
Country: American technical standard