Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Shallow Etch Pit Detection on Silicon Wafers (Withdrawn 2003
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
Označenie: ASTM F1049-02
Dátum vydania: 10.12.2002
Stránok: 4
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma